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Abbildende Rasterkraftmikroskopie

Technische Leitung

Forschungsingenieurin

Qiong Li
+49 351 4658 -496 / -498

Wissenschaftliche Leitung

Gruppenleiterin Korrelatives AFM (Abt. PG)

Dr. Ilka Hermes
+49 351 4658-1486

Leitgedanke

Das Rasterkraftmikroskopie (AFM) Labor des IPF ist mit modernen Mikroskopen ausgestattet, die hochlösende Abbildungen und präzise Messungen von Probentopografie und funktionellen Materialeigenschaften ermöglichen.

Unsere Aufgabe...

- Wir nehmen detaillierte topografische Bilder von Oberflächen mit nanoskaliger Auflösung auf und liefern
  quantitative und qualitative Informationen über Oberflächenstruktur und lokalen Materialeigenschaften.

- Das Labor bietet Studierenden und Forschenden des IPFs Einweisungen und Unterstützung für AFM
  Messungen und Datenanalyse an.

- Im begrenzten Umfang führen wir Servicemessungen für hausinterne Projekte durch.

Unsere Kernkompetenzen...

- Hochauflösende Abbildung der Oberflächentopografie zur quantitativen Struktur-, Rauigkeit- und
  Höhenbestimmung

- Mechanische Eigenschaften wie Steifigkeit, Elastizitätsmodul und Adhäsion mithilfe von lokalen Kraft-
  Abstandskurven, Kraft-Abstandsvolumen oder QNM

- Relative Messungen von Leitfähigkeit, Magnetisierung, elektrische Aufladung und piezoelektrischem
  Verhalten; Quantitative Bestimmung von Oberflächenpotential

- Wo möglich Untersuchungen auch in Flüssigkeiten, ausgewählten Gasen und bei variierender
  Luftfeuchtigkeit, sowie bei unterschiedlichen Temperaturen

- Methoden:

  • Kontaktmodus (CM)
  • Tapping modus (TM) mit Phasenabbildung
  • Peak Force Tapping (PFT) mit quantitativer nanomechanischer Analyse (QNM)
  • Magnetische Kraftmikroskopie (MFM)
  • Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM)
  • Kelvin Probe Kraftmikroskopie (KPFM)
  • Torsions-Resonanz-Mode (TR)
  • Leitfähigkeitskraftmikroskopie (CAFM)
  • Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM)

- AFMs:

  • Oxford Instruments, MFP3D
  • Bruker Icon
  • Bruker Dimension V
  • Bruker Fastscan
  • Bruker Multimode
  • JPK NanoWizard Ultra Speed auf invertiertem optischem Mikroskop

Kollaborationen

Wir arbeiten aktiv mit Forschern, Wissenschaftlern und Branchenexperten zusammen, um interessante Forschungsthemen zu erkunden und zu Fortschritten der AFM-Technologie in der Nanowissenschaft und Materialforschung beizutragen.

Ausgesuchte Publikationen

  • Sun, N.; Singh, S.; Zhang, H.; Hermes, I.; Zhou, Z.; Schlicke, H.; Vaynzof, Y.; Lissel, F.; Fery, A. Gold Nanoparticles with N-Heterocyclic Carbene/Triphenylamine Surface Ligands: Stable and Electrochromically Active Hybrid Materials for Optoelectronics. Advanced Science, 2024, 2400752 DOI: 10.1002/advs.202400752
  • Yi, G.; Hoffmann, M.; Seckin, S.; König, T.; Hermes, I.; Rossner, C.; Fery, A. Toward coupling across inorganic/organic hybrid interfaces: polyaniline-coated gold nanoparticles with 4-aminothiophenol as gold-anchoring moieties. Colloid and Polymer Science, 2024, 1-9
    DOI: 10.1007/s00396-024-05262-x
  • Firdaus, S.; Boye, S.; Janke, A.; Friedel, P.; Janaszewska, A.; Appelhans, D.; Müller, M.; Klajnert-Maculewicz, B.; Voit, B.; Lederer, A.; Advancing Antiamyloidogenic Activity by Fine-Tuning Macromolecular Topology. Biomacromolecules 2023, 24, 12, 5797–5806
    DOI: 10.1021/acs.biomac.3c00817
  • Androsch, R.; Jariyavidyanont, K.; Janke, A.; Schick, C. Poly (butylene succinate): Low-temperature nucleation and crystallization, complex morphology and absence of lamellar thickening. Polymer 2023, 285, 126311
    DOI: 10.1016/j.polymer.2023.126311
  • Flemming, P.; Janke, A.; Simon, F.; Fery, A.; Münch, A.; Uhlmann, P. Multiresponsive Transitions of PDMAEMA Brushes for Tunable Surface Patterning. Langmuir, 2020, 36, 50, 15283 – 15295 
    DOI: 10.1021/acs.langmuir.0c02711